FST200晶圆平坦度测量设备
2026-02-05
阅读量： 1366WAFER FLATNESS MEASUREMENT SYSTEM
系统介绍
对抛光片和外延片的形貌平坦度量测。
测量参数
THKWARP/BOWTTV/LTVSFQRLTIR
行业应用
硅磷化铟SiC蓝宝石玻璃氧化镓砷化镓
自动化能力
● 支持 SECS/GEM SEMI 标准，适配工厂自动化需求
● 支持全流程自动化，测量结果实时上报，数据回溯
● 面型可视化，直观显示工艺偏差，快速定位问题
● 支持离线分析，任务导入，提升机台利用率，降低生产成本
电话：176 2137 2945 宋经理
地址：宁波市余姚市缪云线千人计划产业园1号楼
上海市闵行区浦江科技广场21号楼B202
邮箱：