WLP-G300几何尺寸检测设备
WLP-G300
2023-08-29
阅读量： 2785GEOMETRIC DIMENSION INSPECTION SYSTEM
系统介绍
设备集成多种光学探头，专有 AI 算法，支持 2D/3D 几何参数测量及结构的全方位检测。
测量参数
CDOverlayBumpTSVStepRSTEBRTHKROUGHNESS
行业应用
Bumping工艺晶圆级封装2.5D封装3D封装
自动化能力
● 支持 SECS/GEM SEMI 标准，适配工厂自动化需求
● 支持全流程自动化，测量结果实时上报，数据回溯
● 面型可视化，直观显示工艺偏差，快速定位问题
● 支持离线分析，任务导入，提升机台利用率，降低生产成本
电话：176 2137 2945 宋经理
地址：宁波市余姚市缪云线千人计划产业园1号楼
上海市闵行区浦江科技广场21号楼B202
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