外观缺陷检测系统
PWI608
2023-08-29
阅读量： 751PWI608系列设备用于光通讯，VECSEL等领域的Chip on Tap阶段的外观缺陷检测，可对发光孔，PAD等区域的缺陷进行精确检测，检测精度0.5um
产品为半自动设备，包含数据上传，远程操控等，数据maping，表格统计，产品型号覆盖6-8寸，检测结果返回map图片原坐标
2D图形缺陷包括微粒、划伤、坑点、图形缺失、多余物等；
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